本仪器向您提供一套强有力的组合工具，它帮助您快速、高效查找电路板的故障点。
本仪器的基本设计思想是让技术人员和非技术人员尽量在傻瓜方式下工作：不用拆下IC、不用看电路图、也不用去了解电路板内部或外部的信号作用，仅仅依据电路板上IC的型号或编号，用测试夹对IC逐一夹接并自动测试，直到找出损坏的IC或故障点。
本仪器采用了以下四种性能优越且相互补充的测试技术，以应付千变万化的电子线路和疑难问题。利用这些技术，您不仅可以测出IC的功能故障，还可以查找出存在于板上的其它问题，如：总线故障、负载变化、线间短路、多层板间短路、退耦电容失效、开路等。
1在线功能测试（ICFT）
ICFT是对焊在板上的中、小规模IC的逻辑功能进行的通电测试，测试IC的输入为预先编制的逻辑电平测试模型。用ICFT测试时，只要键入IC的型号，系统测试程序即从器件库中调出此器件的数据文件，并用测试模型来驱动它。而驱动方面采用了安全的“背驱动”技术，有效的隔离了前级电路的互连影响。将器件的输出响应与库存的数据进行计算或比较后，仪器立即显示“通过”或“失效”的直观结果。
测试时需用一支IC夹与被测芯片接触，为使操作方便，本仪器具有IC夹自动定位特性，即不管正反左右的任意夹接IC夹都能准确无误的测试IC。
测试前，仪器可显示测试夹状态报告窗口，说明40PIN IC的各脚的状态，如接Vcc、接GND、互连、悬浮、高阻、低阻、波动等。
ICFT可先在“快速测试”中进行，以快速筛选板上的大量芯片，快速找出故障IC，而“诊断模式”可将测试模型的电平波形信号逐行显示，以便进一步分析和判断故障点。
本仪器配备了丰富的芯片库，它包括了大量的常用的通用IC，但还提供了专用的程序语言BOTL，使用户能方便的将最新的芯片扩充到原来的库中，或建立新库。
本仪器还具有自动识别器件型号的功能。
上述所有的在线测试方法，也适合离线IC的测试，本仪器提供离线测试板附件，供生产线上大批IC的筛选测试。
2．VI曲线分析
经验与统计结果告诉我们，器件的功能或性能故障，常常伴随着器件外端点VI（伏-安）特性的异常。因此测试节点的动态阻抗，以图形曲线显示、分析、记录并比较，从而找出异常点，这就是VI曲线分析的基本原理。
“VI曲线”可测试ICFT不能适应的特殊数字电路、线性电路、模拟电路、分立元件和无源元件（R、L、C等）。
“VI曲线”的方法是对节点施加一交变电压V，并测量其电流I；将所得的V-I关系以数据文件存储起来，以供比较和分析。由于测试和比较是成组进行的，每组节点可多达40个，由此可见“VI曲线”确为一种独特的故障检查方法，而这是普通示波器和信号源所无法比拟的。
“VI曲线”包括一个学习模式，当某好板上所有节点的VI信息被学习储存后，就可以将该储存信息与疑问板的各节点进行比较。在比较中，能发现故障元件、错误值、误差中的级差及许多示波器无法区分的细微差别。
创龙BTR4040EX测试仪可测试多达40脚的器件。而以VI分组测试，可测试更多脚数，如80脚或更多。
3．电流追踪测试
该测试为技术人员测试电路板上的整体电流提供了便利。它主要用于测试和定位电路板上IC的连接和状态方面的故障。例如：PCB导线短路或开路、元件故障、板上IC方向错误和位置错误等。
短路追踪可测试电路中IC的自身连接及板上不同IC的直接连接，它允许根据需要建立多个序列文件，序列文件用于确定被测板上的IC的序列。
对任何一个没有电路图的电路板，可借助外加的CAD程序接口，用电路追踪测试和程序产生原理图，作为一个选件，可向您提供EE设计者软件包以产生原理图。
由电路追踪程序建立的IC连接数据库可作为文本文件存储起来。这些文件转换成EE设计者软件包所需要的格式，一旦引IC连接数据文件被输入到EE设计者软件包内，即可产生电路板的原理图。
将ICFT和电路追踪结合使用，并建立维修数据库，维修库中可存放多达数百块板的测试数据，备份和调用均很方便，这对进行大量的电路板的维修，有着十分重要的意义。
4．LSI器件分析
对于大规模集成电路（LSI）器件，由于其真值表或时序图几无穷尽，不宜用中小规模IC的一般方法去测试。本仪器提供专门的LSI分析技术，来处理LSI的测试问题。LSI分析的基本原理是：对于一个LSI芯片，可使用户对它的局部进行适当的了解和具体应用，然后分步的进行学习和测试，从而解决了LSI器件的实际测试问题。
本仪器的LSI分析测试系统中，使用了以宏汇编为基础的专用语编写的程序，它驱动器件的输入并学习它的响应。在此也包括由众多标准的LSI器件支持的LSI测试。另外，提供测试矢量产生程序以便自动进行测试。SMIL和LSI编译程序作为测试仪的一个标准部分提供，以便建立或扩展库。
LSI分析产生测试被测芯片的信号集合它包括芯片若干个别特性的大量的子测试。LSI测试时仪器驱动器件的输入并将输出波形与前好板上学习来的数据进行比较。
由于一个LSI测试中能由大量的子测试组成。LSI测试仍需较长时间，LSI测试需要学习在线部件的性能以便成功地进行测试。
5．对用户的技术要求
本仪器配备了丰富庞大的数据库，并完全在窗口和菜单的人机对话中操作，故只需做很少的指点或培训，即可较快的掌握使用。对于测试工作量非常大的单位，可由一个技术人员负责技术准备，调试和故障分析的工作，大量的测试操作可交给非技术人员进行。在帮助非技术人员操作本仪器时，仪器本身的自动位特性很有用处。
技术人员应了解基本的DOS命令，具备电子学的基本知识，熟悉Vcc（+5V）、GND（地）、电容、电阻、集电极开路IC、总线、时钟等最基本的电子电路概念。
为了编写用户的IC测试程序，应具有数字逻辑和布尔逻辑方面的知识，能理解被编IC的内部逻辑图。当然，还应会使用“文本编辑器”编辑文本文件。但因编写芯片程序所需的专用语言BOTL全部由本仪器提供，您不必为事先具备专业编程和经验。
“LSI”语言是一种宏语言，它需要定义每个IC脚应在何时驱动及在何时学习响应数据。为了开发用户芯片测试库，您需要有I/O寄存器操作、芯片逻辑状态与时序图等到方面的知识，这样才能自如的编制各种子程序，并对LSI芯片的各种特性进行测试和分析。
技术规格
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测试范围：TTL、CMOS、LSI、VLSI、PAL、GAL、PLD、ROM、RAM、DRIVER、I/O、 CPU、ADC、DAC、模拟器件等。
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双向逻辑测试/驱动通道：40
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逻辑驱动电平：LOW：<0.8V；HIGH：>3.5V
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逻辑驱动电流：（SINK/SOURCE）>240MA
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逻辑测试阈值： TTL紧 TTL松 CMOS紧 CMOS松
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低电平 0-0.8V 0-1.3V 0-1.5V 0-2.4V
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高电平 2-5V 1.5-5V 3.5-5V 2.5-5V
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VI自动测试通：40
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VI扫描电压：-8V-+8V；-19V-+19V
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VI扫描频率：48Hz，96Hz，144Hz，390Hz，780Hz，1170Hz
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VI手持探针：手持探针VI测量（VI测试、R和V测量等）装置，可把本仪器作为万用表使用。
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离线IC测试板：40P/20P双列IC锁紧插座，电源短路保护。
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直流电源输出：5VDC、5A（向被测电路板供电）
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交流电源输入：220VAC、90W