LCR电桥具有电流驱动高端 Hcur、电流驱动低端Lcur、电压检测高端Hpot、电压检测低端Lpot 和对应于每测试端的屏蔽端一共四对测试端。每个测试端都含有屏蔽层，屏蔽目的在于减小对地杂散电容的影响和降低电磁干扰。
测量时Hcur、Hpot 和Lpot、Lcur 应在被测元件引线上连接，形成完整的四端测量，以减小引线及连接点对测试结果的影响（尤其是损耗测量）。特别是在对低阻抗元件进行检测时，应将检测端Hpot、Lpot 连接至元件的引线端，以防止引线电阻加入被测阻抗，其连接的原则为Hpot、Lpot 所检测的应为被测件上实际存在的电压。测试线的屏蔽层将用于回流测试电流，因此测试端的屏蔽层应在接近被测件的地方可靠短接。
如果接触点及引线电阻Rlead 远小于被测阻抗（例如：Rlead<Zx/1000, 精度要求不高于0.1%）时则Hcur、Hpot 及Lpot、Lcur 可连接在一起后再连至被测元件两端（两端测量）。在进行一些精度要求较高的测量时，使用测量夹具比使用测试导线（仪器附配的开尔文夹具）要好的多。开尔文测试线在10kHZ 下频率测试时，可以有较好的测量结果，但超过10kHz 频率时，开尔文测试线很难满足测试要求。因为在高频时，导线之间间隙的变化直接改变了测试端杂散电容和电感，而测试导线总是难以加以固定的；测试导线也容易引起其它的测试误差。因此，在较高频率进行测量时应尽可能使用测试夹具，如果由于条件所限，则仪器清零时测试线的状态应尽可能与测试时保持一致。
当被测元件为有极性器件时，在测试前须注意“高电位端”请接于前面板标为Hcur、Hpot 的端子，而“低电位端”请接于前面板标为Lpot、Lcur 的端子，测量有极性元件时请先放电以免损害仪器。
当被测件为高阻抗时（如小电容），杂散电容的影响不能忽略，下图表示使用四端测量被测件的例子，图中，Cd 与Cx 并联，当有导体板位于被测件之下时，电容Ch 与Cl 串联后也和Cx 并联，这样会对测量结果产生误差。将一块接地导体放在测试高端和低端，Cd 可以降至最小，同时若把接地端子接至下面导体板，Ch、Cl 的影响将会消除。
当被测件为低阻抗时（如小电感、大电容），由于测量线Hcur、Lcur 上有较大电流流过，除了测试端接触电阻的影响外，测试线之间的电磁耦合成了测量误差的主要来源，未很好地消除耦合会对测试结果产生意想不到的影响。一般地，接触电阻影响测试阻抗的电阻部分，电磁耦合则影响测试阻抗的电抗部分。LCR电桥仪器采用四端对测量方式，能有效减小这一影响。此外，使Hcur、Lcur 以双绞线的方式引至测试件上，使其产生的磁场相互抵消，也有助于减小电磁耦合对测试的影响。